XRF | x射线荧光

x射线荧光光谱 & 光谱仪的应用程序

什么是x射线荧光?

x射线荧光(XRF)是一种分析技术,可用于确定包括固体在内的各种样品类型的化学组成, 液体, 浆料和松散的粉末. x射线荧光也用于确定层和涂层的厚度和组成. 它可以分析从铍(Be)到铀(U)的浓度范围从100 wt%到ppm以下的水平.

x射线荧光分析的好处是什么?

XRF分析是一种稳健的技术, 结合高精度和准确性与直观, 快速样品制备. 它可以很容易地自动化用于高吞吐量的工业环境, 加上XRF可以提供样品的定性和定量信息. 简单的组合这'什么?和“多少钱”?信息也使快速筛选(半定量)分析成为可能.

光谱仪原理

XRF是一种原子发射方法, 在这方面与光发射光谱(OES)相似, ICP和中子活化分析(能谱). 这种方法可以测量样品中被激发的原子所发出的“光”(这里是x射线)的波长和强度. 在光谱仪, 用来自x射线管的主x射线束照射, 导致荧光x射线的发射,其特征是样品中存在的元素具有离散能量. 

元素组成的测定

用于分离(分散)的技术, 样品x射线荧光光谱的识别和强度测量产生了两种主要类型的光谱仪: 波长色散(WDXRF)能量色散(EDXRF) 系统.

光谱仪分析

十大彩票平台提供广泛的x射线荧光溶液,用于分析各种材料和应用的元素组成, 并包含波长和能量色散溶液. 在下表中找到十大彩票平台的解决方案组合:

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测量类型
薄膜计量
元素分析
污染物检测与分析
基本的量化
化学鉴定
技术
波长色散x射线荧光(WDXRF)
能量色散x射线荧光
元素范围 Be-Am F-Am B-Am B-Am
LLD 0.1ppm - 100% 1ppm - 100% 0.1ppm - 100% 0.1ppm - 100%
决议(Mn-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
样品处理量 每8h天可达240次 每8小时可达160小时 每天可达480小时 每小时可达25片