x射线荧光光谱 & 光谱仪的应用程序
x射线荧光(XRF)是一种分析技术,可用于确定包括固体在内的各种样品类型的化学组成, 液体, 浆料和松散的粉末. x射线荧光也用于确定层和涂层的厚度和组成. 它可以分析从铍(Be)到铀(U)的浓度范围从100 wt%到ppm以下的水平.
XRF分析是一种稳健的技术, 结合高精度和准确性与直观, 快速样品制备. 它可以很容易地自动化用于高吞吐量的工业环境, 加上XRF可以提供样品的定性和定量信息. 简单的组合这'什么?和“多少钱”?信息也使快速筛选(半定量)分析成为可能.
XRF是一种原子发射方法, 在这方面与光发射光谱(OES)相似, ICP和中子活化分析(能谱). 这种方法可以测量样品中被激发的原子所发出的“光”(这里是x射线)的波长和强度. 在光谱仪, 用来自x射线管的主x射线束照射, 导致荧光x射线的发射,其特征是样品中存在的元素具有离散能量.
用于分离(分散)的技术, 样品x射线荧光光谱的识别和强度测量产生了两种主要类型的光谱仪: 波长色散(WDXRF) 和 能量色散(EDXRF) 系统.
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测量类型 | ||||
薄膜计量 | ||||
元素分析 | ||||
污染物检测与分析 | ||||
基本的量化 | ||||
化学鉴定 | ||||
技术 | ||||
波长色散x射线荧光(WDXRF) | ||||
能量色散x射线荧光 | ||||
元素范围 | Be-Am | F-Am | B-Am | B-Am |
LLD | 0.1ppm - 100% | 1ppm - 100% | 0.1ppm - 100% | 0.1ppm - 100% |
决议(Mn-Ka) | 35eV | 145eV | 35eV | 35eV |
样品处理量 | 每8h天可达240次 | 每8小时可达160小时 | 每天可达480小时 | 每小时可达25片 |