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商标

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AERIS®
AERIS PANALYTICAL®
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AXIOS®
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根据3(3的上标)®
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Eagon 2®
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苍天®
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专家一枝®
容易一枝®
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GALIPIX 3 d®
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Hydrosight
iCore
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Indico职业
Insitec®
(Insitec标志)®
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LeDoser-12
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M4
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Mastersizer 2000
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Microcal®
Morphologi®
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Nanosight®
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油痕®
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OMNISEC®
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PANALYTICAL标志(图)®
哑剧®
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PIXCEL 1 d®
PIXCEL 3 d®
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风场®
风场-MAX®
超级锋利的管®
STRATOS®
超级问®
SyNIRgi®
TerraSpec®
TheOx®先进®
Ultrasizer®
金星MINILAB®
ViewSpec
viscogel®
Viscotek®
X 'CELERATOR®
XPERT3(超索引3)®
Zetasizer®
ZETIUM®
z螺旋®

专利

十大彩票平台公司有一系列独特的, 市场领先的, 受下列专利和专利申请保护的产品

Mastersizer

专利号专利名称仪器
Ep1167946b1 (gb, fr, de60135521d1)样品处理系统水电MV,水电LV,水电EV
GB2364774B
US6800251B2
用于粒子表征装置的样品处理系统水电MV,水电LV
GB2494735B用光散射法测量颗粒大小分布的装置MS3000, MS3000E
CN104067105B
Ep2756283b1 (gb, fr, de602012015707.0)
US9869625B2
JP6154812B
光散射测量颗粒大小分布的仪器和方法MS3000, MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
光散射测量颗粒大小分布的仪器和方法MS3000, MS3000E

Zetasizer

专利号专利名称仪器
US7217350B2
表面电荷的迁移率和效应Zetasizer先进范围,Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
基于动态光散射的复杂流体微流变学与改进的单散射模式检测Zetasizer先进范围,纳米ZSP,螺旋
CN103608671B
CN105891304B
Ep2721399b1 (be, ch + li, dk, fr, gb, nl, de602012031338.2, IT502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
表面电荷测量Zeta平板电池配件
US8702942B2
CN103339500B
Ep2652490b1 (gb, fr, de602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
使用扩散屏障的激光多普勒电泳Zetasizer先进范围,Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP
Ep2742337b1 (gb, fr, de602012018122.2)
US9816922B2
粒子的双模式表征Zetasizer螺旋
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
粒子表征Zetasizer推进范围
US10119910B2粒子表征仪器Zetasizer高级版:Ultra和Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
粒子表征Zetasizer推进配件
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
多角度动态光散射Zetasizer推进:超

Insitec

专利号专利名称仪器
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
稀释系统及方法Insitec(部分产品)
US7871194B2
EP1869429A2
稀释系统及方法Insitec(部分产品)
EP2640499B1 (GB)直列分散器和粉末混合方法Insitec干

Morphologi

专利号专利名称仪器
Ep2106536b1 (gb, fr, de602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
非均匀性的光谱研究Morphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
粉末分散的方法和设备形态学G3- id,形态学G3

Viscosizer

专利号专利名称仪器
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
多组分的模型参数化Viscosizer TD

水电的景象

专利号专利名称仪器
US8456633B2光谱过程监控水电的景象
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
非均质流体样品特征水电的景象

NanoSight

专利号专利名称仪器
US7751053B2
JP04002577B2
DE60335872 EP1499871B1 (FR.1)
GB2388189B
US7399600B2
粒子分析的光学检测NanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
Ep3071944b1 (gb, fr, de602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
仪器校准方面的改进或与之有关的改进NanoSight NS300

MicroCal ITC

专利号专利名称仪器
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
等温滴定微量热计装置及使用方法MicroCal ITC范围
CN102232184B
Ep2352993b1 (ch + li, gb, fr, de602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
Ep3144666b1 (ch + li, gb, fr, de602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
全自动等温滴定微量热计装置及使用方法MicroCal ITC范围

MicroCal DSC

专利号专利名称仪器
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
量热数据中自动找峰的方法MicroCal DSC范围

OMNISEC

专利号专利名称仪器
US9759644B2
US10551291B2
平衡式毛细管桥式粘度计OMNISEC
US9612183B2
Ep2619543b1 (gb, fr, de602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
模块化毛细管桥式粘度计OMNISEC

地板上站光谱仪

专利号专利名称仪器
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1)
珠炉Zetium
Axios快
Epsilon5
US6823043B2材料参数的确定
Zetium *
Axios快*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US7949092B2
执行x射线分析的装置和方法
Zetium *
Axios快*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS
US6574305B2
检验样品状况的装置和方法Zetium *
Axios快*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
JP4111336B2用x射线检测样品的装置
Epsilon5

US7042978B2材料样品检验Zetium *
Axios快*
Epsilon5
SEMYOS *
JP5782451B2
Ep2510397b1 (gb, fr, nl, de602010021859.7)
用于制造具有用于xuv波长范围的横向图案的多层结构的方法, 以及根据此方法制造的bf和imagag结构Zetium *
Axios快
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
制定标准的方法Zetium
Axios快
Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6)
JP6360151B2
压片法制备样品球团Zetium
Axios快
US10107551B2
Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
用助焊剂和铂坩埚制备XRF样品Zetium
Axios快
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de)
x射线定量分析-基体厚度校正Zetium *
Axios快
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de)
定量x射线分析-多光路仪器Zetium *
Axios快
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9)
定量x射线分析-比率校正Zetium *
Axios快
JP3936912B2液体x射线分析用带浮动盖的样品容器Zetium
Axios快
2830 ZT(晶片分析仪)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2样品架Zetium *
Axios快*
Epsilon5
US7978820B2
x射线衍射和荧光Zetium
Axios快*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
x射线荧光仪Zetium *
Axios快*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US7194067B2
x射线光学系统Zetium
Axios快*
2830 ZT(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1)
金属丝阴极x射线源Zetium
Axios快
2830 ZT(晶片分析仪)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9)
x射线管阳极布置
Zetium
Axios快
2830 ZT(晶片分析仪)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
Ep3330701b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
x射线测量用锥形准直器Zetium *
*·产品可选/不标准

台式光谱仪

专利号专利名称仪器
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1)
珠炉ε1范围内
ε3 x光谱分析仪
Epsilon 4空气质量版
US6823043B2材料参数的确定
ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US7949092B2
执行x射线分析的装置和方法
ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US6574305B2
检验样品状况的装置和方法ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US7042978B2材料样品检验ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US9658352B2
CN104833557B 
JP6562635B2
JP6804594B2
制定标准的方法ε1范围内
ε3 x光谱分析仪
Epsilon 4空气质量版
Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6)
JP6360151B2
压片法制备样品球团ε1范围内
ε3 x光谱分析仪
Epsilon 4空气质量版
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B 
Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2)
用助焊剂和铂坩埚制备XRF样品ε1范围内
ε3 x光谱分析仪
Epsilon 4空气质量版
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de)
x射线定量分析-基体厚度校正ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B 
Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de602016056347.9)
定量x射线分析-多光路仪器ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B 
Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9)
定量x射线分析-比率校正ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
JP3936912B2液体x射线分析用带浮动盖的样品容器ε1范围内
ε3 x光谱分析仪
Epsilon 4空气质量版
US9239305B2样品架ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US9547094B2
CN104849295B
Ep2908127b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602014011398.2)
JP6526983B2
x射线分析仪器
ε1范围内
ε3 x光谱分析仪
Epsilon 4空气质量版
US7978820B2
x射线衍射和荧光ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US7194067B2
x射线光学系统ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1)
金属丝阴极x射线源ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9)
x射线管阳极布置
ε1范围*
ε3 x光谱仪*
空气质量版*
*可选/非标准产品

地板上站XRD

专利号专利名称仪器
US6815684B2
分析x射线装置,提供固态位置灵敏的x射线探测器苍天
X 'Pert³粉
X 'Pert³MRD (XL)
根据³范围
US6823043B2材料参数的确定
苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US6574305B2
检验样品状况的装置和方法苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
衍射成像苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US7116754B2衍射仪苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3)
衍射仪
苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3)
成像探测器苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
Ep2088625b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602009040563.2)成像探测器苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US9110003B2
CN103383363B
Ep2634566b1 (gb, fr, nl, de602012058202.2)
JP6198406B2
微衍射
苍天
X 'Pert³粉
X 'Pert³MRD (XL)
根据³范围
US6704390B2
具有多层反射镜和出口准直器的x射线分析装置苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US9640292B2
CN104777179B
Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1)
JP6564683B2
x射线机
苍天
X 'Pert³粉
根据³范围
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
Ep2090883b1 (gb, fr, nl, de602008002143d1)
包装x射线检测
苍天
X 'Pert³粉
X 'Pert³MRD (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1)
x射线衍射和计算机断层摄影术苍天
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1)
用于x射线散射的x射线衍射设备
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0)x射线衍射仪苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US7477724B2
Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962 ..0)
x射线仪器苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围
US7194067B2
x射线光学系统苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1)
x光快门安排苍天
X 'Pert³粉
X 'Pert³MRD (XL)
根据³范围
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de602015012421.9)
x射线管阳极布置
苍天*
X 'Pert³粉*
X 'Pert³MRD (XL) *
根据³范围*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
x射线分析仪器及方法苍天*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
x射线分析的样品支架苍天*
*可选/非标准产品

QualitySpec 7000

专利号专利名称仪器
US8164747B2
CA2667650C
Ep2092296b1 (ch + li, nl, se, dk, de602007045593.6)
光学光谱测量的仪器、系统和方法QualitySpec 7000

TerraSpec晕

专利号专利名称仪器
US9207118B2扫描单色仪和二极管阵列光谱仪的仪器、系统和方法TerraSpec晕

QualitySpec长途跋涉

专利号专利名称仪器
US9207118B2扫描单色仪和二极管阵列光谱仪的仪器、系统和方法QualitySpec长途跋涉

台式XRD

专利号专利名称仪器
US6815684B2
分析x射线装置,提供固态位置灵敏的x射线探测器Aeris *
US6823043B2材料参数的确定
Aeris *
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
衍射成像Aeris *
US7116754B2衍射仪Aeris *
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3)
衍射仪Aeris *
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
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具有多层反射镜和出口准直器的x射线分析装置Aeris *
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x射线机Aeris
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x射线衍射和计算机断层摄影术Aeris *
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Aeris *
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x射线仪器Aeris *
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x射线管阳极布置
Aeris *

*可选/非标准产品